GJB150.4-86/GB11606.3-89/GB2423.1-89/GB/T2424.1-2005/IEC/60068-3-1:1974前能進(jìn)行低溫試驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)室有環(huán)境可靠性與電磁兼容試驗(yàn)中心、上海航天環(huán)境可靠性試驗(yàn)與檢測(cè)中心等
用途:用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。
低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)。
低溫試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、時(shí)間、上升速率。
注意產(chǎn)品從低溫箱取出時(shí)由于溫度突變會(huì)產(chǎn)生冷凝水。（對(duì)溫度循環(huán)、溫度沖擊、濕熱試驗(yàn)均適用）
樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為保持樣品表面溫度的均勻性，樣品距離箱壁的距離*少為5cm
GB/T2423.1中低溫的試驗(yàn)方法分：散熱樣品的溫度漸變，非散熱樣品的溫度漸變
試驗(yàn)結(jié)束后需要將樣品在箱體內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，在特定環(huán)境下會(huì)要求對(duì)樣品吹稍熱的風(fēng)進(jìn)行解凍再進(jìn)行升溫至穩(wěn)定狀態(tài)。