GB/T21834-2008中低合金鋼多元素成分分布的測(cè)定金屬原位統(tǒng)計(jì)分布分析法內(nèi)容是什么?百檢網(wǎng)檢測(cè)范圍廣泛，可根據(jù)客戶需求選擇合適的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目安排檢測(cè)，全國(guó)近千家合作實(shí)驗(yàn)室，CMA/CNAS資質(zhì)齊全，可就近安排寄樣檢測(cè)。今天百檢網(wǎng)就給大家簡(jiǎn)單介紹一下GB/T21834-2008中低合金鋼多元素成分分布的測(cè)定金屬原位統(tǒng)計(jì)分布分析法標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容。

警告:使用本標(biāo)準(zhǔn)的人員應(yīng)有正規(guī)實(shí)驗(yàn)室工作的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。本標(biāo)準(zhǔn)并未指出所有可能的安全問題。使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧?并保證符合國(guó)家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件。

1.范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用金屬原位統(tǒng)計(jì)分布分析法測(cè)定碳、硅、錳、磷、硫、鉻鎳、銅、鈦、鈮、鉬、釩、鋁等成分的分布。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定橫截面包含長(zhǎng)為30mm～120mm,寬為30mm～120mm的長(zhǎng)方形或正方形區(qū)域,高為10mm～50mm的塊狀中低合金鋼樣品。一般分析面積*大不超過6400mm2,分析長(zhǎng)度*大不超過120mm。各元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)測(cè)定范圍見表1。

2.規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 4236 鋼的硫印檢驗(yàn)方法

YB/T 4002 連鑄鋼方坯低倍組織缺陷評(píng)級(jí)圖

YB/T 4003 連鑄鋼板坯低倍組織缺陷評(píng)級(jí)圖

3.原理

塊狀試樣經(jīng)過適當(dāng)?shù)你姶不蚰訖C(jī)出平整且具一定清晰紋路的表面。將制備好的塊狀樣品作為一個(gè)電*,采用金屬放電電*對(duì)相對(duì)運(yùn)動(dòng)的樣品實(shí)施連續(xù)的火花激發(fā)放電;將所激發(fā)的火花光譜色散成特定波長(zhǎng)的線狀光譜;高速、實(shí)時(shí)記錄單次火花放電的位置和光譜信號(hào),將單次火花信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào),輸入信號(hào)存儲(chǔ)器;對(duì)選用的參比線和分析線的發(fā)射譜線強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量,用計(jì)算機(jī)對(duì)上述單次火花放電的線狀光譜進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分布分析,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品制作的校準(zhǔn)曲線,求出分析樣品測(cè)量區(qū)域內(nèi)各測(cè)量元素的化學(xué)成分分布。經(jīng)過含量統(tǒng)計(jì)分布分析,得到用于評(píng)價(jià)各元素含量分布和偏析的各種指標(biāo):特定位置含量、*大偏析度、含量二維等高圖、含量三維視圖、含量頻度分布圖、含量線分布圖、統(tǒng)計(jì)符合度及統(tǒng)計(jì)偏析度等。

4.儀器

金屬原位分析儀主要由以下單元組成。

4.1 激發(fā)光源

激發(fā)光源是能提供一個(gè)能量可控、并能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)放電的光源裝置。

4.2 連續(xù)激發(fā)臺(tái)

能夠放置和激發(fā)大樣品,并能支持其連續(xù)移動(dòng)的激發(fā)平臺(tái)。該裝置可使用高純氬氣進(jìn)行氣氛保護(hù)。

4.3 對(duì)電*

采用45°頂角純鎢電*,直徑為3mm。每個(gè)實(shí)驗(yàn)室根據(jù)分析樣品數(shù)量的具體情況確定更換對(duì)電*的時(shí)間。

4.4 分光計(jì)

分光計(jì)的一級(jí)光譜色散的倒數(shù)應(yīng)小于0.6mm/mm,焦距為0.75m～1.0m,波長(zhǎng)范圍為170.0nm～400.0nm。分光計(jì)的真空度應(yīng)在3Pa以下。

4.5 分光單元

由準(zhǔn)直透鏡、入射狹縫、凹面光柵以及出射狹縫組成,光經(jīng)過準(zhǔn)直透鏡進(jìn)入入射狹縫、凹面光柵分光,由出射狹縫系統(tǒng)選擇各自元素的特征譜線,整套光路系統(tǒng)均在真空系統(tǒng)下運(yùn)行。

4.6 信號(hào)高速采集系統(tǒng)

信號(hào)高速釆集系統(tǒng)由光電倍增管、高壓板、放大板和高速采集板(A/D板)組成,此系統(tǒng)可以高速采集放電區(qū)域內(nèi)的所有單次火花的激發(fā)信號(hào)。該系統(tǒng)高速連續(xù)采集由連續(xù)激發(fā)光源對(duì)待測(cè)樣品放電所產(chǎn)生的大量單次火花信號(hào)強(qiáng)度,并加以存儲(chǔ)。

4.7 掃描系統(tǒng)

試樣掃描方式為線性面掃描,沿X軸方向連續(xù)掃描,掃描速度為1mm/s;Y軸方向?yàn)槠揭品绞?間隔為2mm。

4.8 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)

由于一個(gè)火花脈沖中包含多個(gè)單次放電,每個(gè)單次放電信號(hào)與放電位置的狀態(tài)相關(guān),因此該系統(tǒng)把由高速采集系統(tǒng)所采集存儲(chǔ)到的大量單次火花信號(hào)強(qiáng)度進(jìn)行數(shù)理統(tǒng)計(jì)分析,即可得到與原始位置相對(duì)應(yīng)的元素成分位置含量分布及相關(guān)缺陷狀態(tài)分布的信息。

該統(tǒng)計(jì)分析方法處理系統(tǒng)以含量二維等高圖、含量三維視圖、含量線分布圖、含量頻度統(tǒng)計(jì)分布圖、致密度分布圖以及夾雜物分布圖來直觀表征待測(cè)元素在樣品中的分布規(guī)律,并以平均含量、*大偏析度、統(tǒng)計(jì)偏析度統(tǒng)計(jì)符合度、平均表觀致密度以及夾雜物含量來表征元素的分布規(guī)律。

5.制樣

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百檢網(wǎng)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè)范圍廣泛，包括紡織品、食品、日用品、電子電器、建筑工程、汽車及零部件、材料、煙草、化妝品、相關(guān)認(rèn)證辦理、消防等，資質(zhì)齊全，報(bào)告真實(shí)有效。

第三方檢測(cè)辦理流程：確認(rèn)項(xiàng)目方案>報(bào)價(jià)>百檢安排寄樣實(shí)驗(yàn)室>檢測(cè)樣品>出具檢測(cè)報(bào)告

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